簡要描述:激光衍射粒度分析儀貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個更高的水平,升級版PIDS技術、優(yōu)化的132枚檢測器,保證了儀器分辨率更高,結果更準確,再現(xiàn)性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒,而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。
詳細介紹
品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
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應用領域 | 綜合 |
貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個更高的水平,升級版PIDS技術(號:4953978;5104221)、優(yōu)化的132枚檢測器,保證了儀器分辨率更高,結果更準確,再現(xiàn)性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒,而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。PIDS技術,真正實現(xiàn)10nm粒徑測量;新型的干、濕進樣模塊,“即插即用",滿足不同的分析要求,靈活便利;直觀的軟件和觸摸屏設計,大大簡化了儀器的操作,僅需點擊幾次便可獲得所需數(shù)據(jù)。LS 13 320 XR將為您帶來測量的新體驗!
激光衍射粒度分析儀主要特點
• 優(yōu)于ISO 13 320技術標準
• 符合FDA的21 CFR Part 11標準
• 檢測器數(shù)量更多,高達132枚獨立物理位置檢測器,對應高達136個真實數(shù)據(jù)通道,能夠清晰區(qū)分不同粒度等級間散射光強譜圖差異,確保不缺漏絲毫信息,快速、準確的真實粒度測量。
• 設計的“X"型對數(shù)排布檢測器陣列,可以準確記錄散射光強信號,不管單峰、多峰,準確分析粒度分布。
• 全自動運算分析功能,多峰自動檢測,無需事先猜測峰型,無需選擇分析模型,提供客觀的報告。
• 升級版PIDS技術提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能,真正實現(xiàn)10nm下限峰值測量。
• PIDS技術不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒,而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。
• 納米分析功能與微米分析功能合二為一,功能強大,真正10nm的測量可使其作為獨立的高分辨率納米粒度分析儀使用。
• 新一代固體激光光源,無需預熱,7萬小時以上開機使用壽命 。
• 并行式信號采集與傳輸,確保信號保持高信噪比、無時差、高通量。
• 多波長和偏振光分析技術令粒度分布在寬動態(tài)范圍內的準確性分析獲得高度保障。
• 多種自動化樣品分散系統(tǒng),“即插即用",數(shù)秒即可完成切換,高效便利。
• 新一代觸摸屏設計ADAPT分析軟件,操作更直觀,無需操作經驗,簡單三步完成測量,直觀醒目的導航輪,僅需一步實現(xiàn)數(shù)據(jù)顯示與導出。
• ADAPT軟件自動對測量結果標準綠色或紅色,自動合格/不合格管理,實現(xiàn)直接質控。
• 軟件配有強大的光學參數(shù)數(shù)據(jù)庫,具有創(chuàng)新的“Zero-Time"即時光學模型系統(tǒng),只需一秒即可建立新的光學模型,提供客觀準確的分析報告。
• 儀器配有自檢診斷功能,測試過程中隨時顯示測量情況。
技術參數(shù):
• 粒徑范圍:10納米-3500微米 (峰值)
• 主光路激光光源:光纖連接的固體激光器
• 檢測器:132枚獨立物理角度檢測器
• 真實分析通道:136個
• 多波長測量:475nm、613nm、785nm及900nm
• 光學理論模型:全程Mie理論;Fraunhofer理論
• 準確性誤差:小于+/- 0.5%
• 重現(xiàn)性誤差:小于+/- 0.5%
激光衍射粒度分析儀應用優(yōu)勢:
• 廣泛應用于食品添加劑、土壤、沉淀物、黏合劑、合金、金屬粉末、藥物、礦物、紙等應用領域。
• 大容量,專為土壤、沉積物設計 –標準樣品臺——容量高達1500mL,提高寬分布樣品的代表性、準確度及重復性
√ 自動智能清洗,自動進排液,循環(huán)速度可調
√ 內置樣品超聲處理,達到穩(wěn)定可靠分散
• 對含量較少的細顆粒成分( 粘粒、細粉沙) 和粗顆粒成分檢測效果理想,全自動操作簡單
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